桔皮仪dual

桔皮仪dual测量高光泽至中光泽涂层表面的桔皮和鲜映性表面外观控制不再限于对最终面漆涂层检验。桔皮仪dual使用激光光源扫描高光泽表面的光学轮廓。另外有一个高能量的红外发光二极管能够测量中光泽表面相同波纹(0.1-30mm)的波长光谱。使用最新CCD 照相探测技术用于测量并记录“晦涩度”。它能提供在受到波长小于0.1mm的微细波纹影响的表面上的成像质量信息。 在整个涂装过程进行外观控制能

  • 产地: 中国
  • 品牌: 彩谱

桔皮仪dual

测量高光泽至中光泽涂层表面的桔皮和鲜映性

表面外观控制不再限于对最终面漆涂层检验。

桔皮仪dual使用激光光源扫描高光泽表面的光学轮廓。另外有一个高能量的红外发光二极管能够测量中光泽表面相同波纹(0.1-30mm)的波长光谱。使用最新CCD 照相探测技术用于测量并记录“晦涩度”。它能提供在受到波长小于0.1mm的微细波纹影响的表面上的成像质量信息。

 

在整个涂装过程进行外观控制

能够对每一层涂料涂装后的表面外观质量进行客观地评估。无须再对究竟是哪一涂层对最终表面外观产生影响进行猜测。桔皮仪dual可以帮助您对外观问题进行客观的分析,并且最大可能地减少您解决这些问题所需的时间。



客观和可靠的外观数据

■ 在高光泽表面上的测量,与桔皮仪DOI有很好的一致性

■ 在中光泽表面上的测量,与机械表面轮廓仪读出的数据有良好的关联性

 

 

单手操作方便使用

 

■ 用于平坦或有曲率的表面

■ 体积小,重量轻

■ 滚轮操作及大屏幕显示

■ 可供选择的测量标尺及扫描长度

■ 全面的统计数据,且可贮存于可选的内存中

■ USB端口,可将数据传送至个人电脑

■ smart-chart软件 

选择模式 .....

 

 

 

测量 ...

 

 

 

 

 

 

 

 

 



 




 


 

 

 


 




订购信息


技术指标


名称


应用


AW-4840 桔皮仪dual


高光泽至中光泽表面

du < 65, 线性范围

SE-4840 延长一年保修期


波长光谱




du

<0.1 mm



Wa

0.1 to 0.3 mm

基本配置如下:


Wb

0.3 to 1 mm

仪器主机,保护盖


Wc

1 to 3 mm

带证书的参考标准板

smart-chart软件光盘

充电和数据传输底座和接口电缆


Wd We

3 to 10 mm

10 to 30 mm


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